Sự kiện đơn lẻ (SEU)
Sự kiện đơn lẻ là những tác động không mong muốn ở trạng thái chốt hoặc tế bào nhớ của các thiết bị bán dẫn do bức xạ gây ra.
Hỗ trợ Sự kiện Upsets Đơn lẻ (SEU) cung cấp tài nguyên cho các thiết bị Agilex™ 7, Agilex™ 5, Stratix® 10, Arria® 10, Cyclone® 10, MAX® 10, Stratix® V, Arria® V, Cyclone® V, Stratix® IV, Cyclone® IV và Arria® II.
Nhận hỗ trợ bổ sung cho Kiến trúc hệ thống Agilex™ 7 và Kiến trúc hệ thống Agilex™ 5, hành trình có hướng dẫn từng bước cho các quy trình phát triển tiêu chuẩn hiển thị các tài nguyên và tài liệu quan trọng chính.
Đối với các thiết bị khác, hãy tìm kiếm trong Bộ sưu tập Hỗ trợ Thiết bị và Sản phẩm.
Giới thiệu
Sự kiện rối loạn đơn lẻ (SEU) là do bức xạ ion hóa tấn công trong các phần tử lưu trữ, chẳng hạn như ô nhớ cấu hình, bộ nhớ người dùng và thanh ghi. Trong các ứng dụng trên mặt đất, các nguồn bức xạ ion hóa chính được quan tâm là các hạt alpha phát ra từ tạp chất phóng xạ trong vật liệu, neutron năng lượng cao được tạo ra bởi sự tương tác của tia vũ trụ với khí quyển trái đất và neutron nhiệt mà trong hầu hết các trường hợp là neutron năng lượng cao nhiệt hóa nhưng cũng có thể được sản xuất trong thiết bị nhân tạo. Các nghiên cứu được thực hiện trong 20 năm qua đã dẫn đến các vật liệu đóng gói có độ tinh khiết cao, giảm thiểu tác động SEU do bức xạ hạt alpha gây ra. Các neutron trong khí quyển không thể tránh khỏi vẫn là nguyên nhân chính gây ra hiệu ứng SEU ngày nay. Lỗi mềm là ngẫu nhiên và xảy ra theo xác suất liên quan đến mức năng lượng, thông lượng và tính nhạy cảm của tế bào.
Altera đã nghiên cứu ảnh hưởng của SEU trên các thiết bị của mình trong nhiều thế hệ quy trình và đã tích lũy được nhiều kinh nghiệm trong cả việc giảm tỷ lệ lỗi mềm thông qua công nghệ xử lý và bố cục vật lý được tối ưu hóa SEU cũng như trong các kỹ thuật giảm thiểu lỗi mềm. Altera đã giới thiệu kiểm tra dự phòng theo chu kỳ tự động (CRC) đầu tiên trong ngành và loại bỏ các yêu cầu logic và độ phức tạp bổ sung phổ biến cho các giải pháp kiểm tra lỗi khác. Tất cả các dòng thiết bị đều được kiểm tra hành vi và hiệu suất SEU bằng cách sử dụng các cơ sở như Nghiên cứu neutron vũ khí Los Alamos (WNR) bằng cách sử dụng các quy trình thử nghiệm tiêu chuẩn được xác định bởi thông số kỹ thuật JESD-89 của JEDEC.
Thử nghiệm SEU của FPGAs tại Trung tâm Khoa học Neutron Los Alamos (LANSCE) đã cho thấy kết quả như sau:
- Không có lỗi SEU nào được quan sát thấy trong mạch CRC cứng và thanh ghi I/O cho tất cả các sản phẩm, ngoài Stratix 10.
- Có một khoảng thời gian trung bình giữa các ngắt chức năng (MTBFI) là hàng trăm năm, ngay cả đối với các FPGAs rất lớn, mật độ cao.
Dòng Stratix®, sê-ri Arria® GX và Cyclone® loạt các dòng FPGA đều có mạch cứng chuyên dụng tích hợp để liên tục và tự động kiểm tra CRC mà không mất thêm phí. Đối với các sản phẩm được sản xuất trên công nghệ xử lý 28 nm và các nút quy trình tiếp theo, Altera đã triển khai sửa lỗi bit rối loạn CRAM (chà) bên cạnh việc phát hiện và sửa lỗi bit CRAM nâng cao. Bạn có thể dễ dàng thiết lập trình kiểm tra CRC thông qua phần mềm thiết kế Quartus® Prime.
Để biết thêm thông tin về các kỹ thuật giảm thiểu khác và để biết thêm chi tiết về thử nghiệm SEU của các thiết bị FPGA, vui lòng liên hệ với đại diện bán hàng hoặc nhà phân phối Altera tại địa phương của bạn.
Tư liệu
Tài liệu được phân loại theo các giai đoạn vòng đời sản phẩm.
Đường liên kết có liên quan
Nội dung gốc bằng tiếng Anh trên trang này vừa do con người vừa do máy dịch. Nội dung này chỉ để cung cấp thông tin chung và giúp quý vị thuận tiện. Quý vị không nên tin đây là thông tin hoàn chỉnh hoặc chính xác. Nếu có bất kỳ mâu thuẫn nào giữa bản tiếng Anh và bản dịch của trang này, thì bản tiếng Anh sẽ chi phối và kiểm soát. Xem phiên bản tiếng Anh của trang này.